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致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統 50/100MHz測試工作頻率 1024個 I/O 通道（I/O Channel） 32M （64M Max.） Pattern 記憶體 （Pattern Memory） Per-Pin 彈性資源架構 512 DUTS 平行測試功能 96個電源通道 硬體規則模式產生器 （Algorithmic Pattern Gener

致茂Chroma 3680 *SoC/模擬測試系統 24個可互換插槽，用于數字，模擬和混合信號應用 150 Mbps數據速率 （muxed模式蕞高1Gbps） 蕞高512 sites并行測試 多達2048個數字通道管腳 256 MW向量存儲深度 （512 MW可選配）（X2模式） 64通道高精度測量PMU

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致茂Chroma 7231 光伏硅片線鋸痕檢測機 可整合到任何硅片分選機上 可調整式的演算法可供檢測5“、6“以及單晶、多晶、準單晶等各種硅片 多樣化介面選擇可與不同設備或者MES系統連線 遵守EN 50513 2009來進行硅片線鋸痕檢測