泰克4200A-SCS參數分析儀

產品簡介

泰克4200A-SCS參數分析儀
大膽發現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。另外，嵌入式測量專業知識可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。
特點
內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試
自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

產品型號：4200A-SCS

更新時間：2023-07-19

廠商性質：代理商

訪問量：953

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產品分類

分析儀

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品牌	泰克	產地類別	進口
應用領域	電子

泰克4200A-SCS參數分析儀

主要性能指標

I-V 源測量單元(SMU)

± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
100 fA測量分辨率
選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
四象限操作
2 線或 4 線連接

C-V 多頻率電容單元(CVU)

AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源，可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
選配 CVIV 多通道開關，在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
200 MSa/s，5 ns 采樣率
±40 V (80 V p-p)，±800 mA
瞬態波形捕獲模式
任意波形發生器 Segment ARB® 模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率

高壓脈沖發生器單元(PGU)

兩個高速脈沖電壓源通道
±40 V (80 V p-p)，± 800 mA
任意波形發生器 Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換，無需重新布線或抬起探針
把 C-V測量移動到任意端子，無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換
把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
降低電纜電容效應

為材料、半導體器件和工藝開發提供*秀的參數分析儀

使用強大的Clarius 軟件，可以更加快速的完成I-V, C-V 和脈沖I-V 測試，結果清晰明了

泰克4200A-SCS參數分析儀

4200A-SCS 儀器和模塊

型號	說明	主要測量	范圍	測量分辨率
4200-SMU	中等功率源測量單元	DC I-V 超低頻率 C-V 準靜態 C-V	±100 mA, ±210 V	0.2 mV, 100 fA
4210-SMU	高功率源測量單元		±1 A, ±210 V	0.2 mV, 100 fA
4200-PA	遠程前端放大器模塊		擴展所有 SMU 的電流范圍	0.2 mV, 10 aA
			1 kHz - 10 MHz
4210-CVU	電容電壓單元	AC 阻抗 C-V, C-f, C-t	±30 V 內置DC 偏置裝置(60 V 差分) 使用 SMU 擴展直流偏置電壓至	-
			±210V
4200A-CVIV	I-V/C-V 多通道開關模塊	DC I-V 和 C-V 自動切換	-	-
		脈沖式 I-V SegmentARBR® 多電平脈沖瞬態波形捕獲	±40 V (80 V _p-p), ±800 mA 200 MSa/s 同時測量電流和電壓
4225-PMU	超快速脈沖測量單元		2048 個唯yi段	75 nA
			20 ns 脈寬僅輸出時
			60 ns 脈寬輸出同時測流時
4225-RPM	遠程前段放大器 / 開關模塊	DC I-V、C-V、脈沖式 I-V 間自動切換	擴展 4225-PMU 單元的電流范圍	200 pA
4220-PGU	高壓脈沖發生器單元	脈沖式電壓源 Segment ARB® 多電平脈沖	±40 V (80 V_p-p) 2048 個唯yi段	-
接地單元	內置低噪聲接地單元	-	三同軸連接 : 2.6 A 接線柱 : 9.5 A	-