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Product Center泰克OM4245光調制分析儀OM4000 光調制分析儀OM4245 使用相干檢測來采集gao 80 GBaud 的光纖信號,然后使用 DSP 功率來分析調制和信號源屬性。 它會提供豐富的結果和圖表。 動態的 MATLAB 集成可提供gao的分析系統定制性和可擴展性。
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相關文章品牌 | 泰克 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 電子 |
泰克OM4245光調制分析儀
OM 4245光調制分析儀(OMA)是一個45 GHz的1550 nm(C波段和L波段)光纖測試系統,用于復雜調制信號的可視化和測量,為測試相干和直接檢測的傳輸系統提供了一個完整的解決方案。OM 4245由偏振和相位不同的接收機和分析軟件組成,能夠同時測量對高級光纖通信非常重要的調制格式,包括QPSK、8 QAM、16 QAM、PAM 4等偏振復用(PM)格式。OMA軟件執行所有的校準和處理功能,以實現實時突發模式星座圖顯示、眼圖顯示、Poincaré球面和位錯誤檢測。
關鍵特征
*的靈活性
精密光接收機
用戶定義的可擴展性
400 g和1TB/s超通道支持
1某些功能只有在與泰克羅尼示波器一起使用時才能使用。
泰克OM4245光調制分析儀
光學調制分析器
大可探測波特率(假設“上升-余弦”脈沖形狀,其中帶寬要求=波特率*(1+Alpha)/2,使用的α值為0.1)
OM 4245:
80 Gbaud與Tektronix DPS 77004SX,使用70 GHz輸入
60 Gbaud與Tektronix DPS 77004SX,使用33 GHz輸入
OM 4225:
45 Gbaud與Tektronix DPO73304SX,使用33 GHz輸入
采樣率
200 GS/s與Tektronix DPS 77004SX
100 GS/s與Tektronix DPO 73304SX
EVM噪聲地板
1.8%
I/Q之間的O/E增益不平衡
0.1分貝
可用調制格式
OOK,3狀態OOK,(PM)BPSK,(PM)QPSK,(PM)8,16,32,64-QAM,(PM)偏移QPSK,(PM)8-PSK,2 ASK2PSK和PAM 4
任何rbs或用戶提供的模式。
控制
內置以太網接口
OM 4200系列相干接收機
光輸入
C波段:1530至1567.5 nm
C波段和L波段:1530至1600 nm(可選)
大輸入功率
信號輸入:+10 dBm
參考輸入:+16 dBm
大輸入功率損傷級
+18 dBm
電帶寬
OM 4245:45 GHz
OM 4225:25 GHz
IQ混頻器校正后的光學相位角
90°±1°
校正后偏斜
±1ps
外部本地振蕩器輸入
光輸入波長范圍
C波段:1530至1567.5 nm
l波段:1570至1600 nm(可選)
建議的外部本地振蕩器輸入功率范圍
+7 dBm至+16 dBm
大輸入峰值功率(損傷水平)
+18 dBm
瞬時線寬
<5 MHz
本機振蕩器
波長范圍
C波段:1527.6到1567.5 nm
C波段和L波段:1567.5至1609.6 nm(可選)
輸出功率
>14.5 dBm
小波長步長
10 GHz
小頻率步長
100兆赫
波長精度
晚上10時
線寬(短期)
100千赫
側模抑制比
55分貝
高分辨率光譜儀
大頻率跨度
低頻±示波器帶寬(瞬時)
1530至1600 nm(使用MCS和CL選項)
LO波長范圍
C波段:1530至1567.5 nm
C波段和L波段:1530至1600 nm
FFT點數
一百萬
小RBW
1/大示波器時間窗
頻率精度
晚上10時
軟件需求
OM 4200軟件支持的平臺:
支持下列平臺,但可能無法使用某些高級圖形功能,如顏色、等級和3D:
功率要求
功率要求
100/115/230 V交流,~50~60 Hz,1根電力電纜,大。100 VA
物理特性
維數
高度
1.96英寸(49.8毫米)足
1.7英寸。(43.2毫米)無腳
寬度
17.27英寸(438.7毫米)
深度
20.78英寸。(527.8毫米)不包括連接器和后腳
21.98英寸(558.3毫米)包括連接器和后腳
重量
網
10.6磅(4.8公斤)
航運
17.5磅(7.9公斤)
環境特性(不包括示波器)
溫度
操作
+10°C+35°C(50°F至95°F)
儲物
-20°C至+60°C(-4°F至140°F),不凝結濕度
濕度
15%-80%相對濕度,不凝結
謹慎
此設備是1M級激光產品,僅在數據表中的推薦操作條件和額定值下使用。除了數據表中規定的程序外,使用控制或調整或執行程序可能導致危險的輻射暴露。
不可見的激光輻射-不要直接用光學儀器來觀察該裝置的激光輸出。
本裝置符合21CFR1040.10規定,但根據2007年6月24日第50號激光通知發生的偏差除外。