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Product Center致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機整合SD卡測試機與自動分類機功能平行測試120個micro SD卡Test-In-TrayUPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)支援SD卡資料通訊協定支援DC參數量測功能Microsoft Windows XP OS
品牌 | Chroma/致茂 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 電子 |
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致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機
主要特色:
Chroma 3280采用創新的技術整合SD卡測試機與 自動分類機的功能,并利用Test-In-Tray的技術來 達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳 輸協定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測 試的功能,3280為所有的SD卡類產品帶來了一 個創新的測試方法,而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外,小機 臺的設計更可節省機臺于測試廠之占地面積。
對于低價的消費性產品而言,即使在生產成本上 僅有些微的差距,制造商也會極為敏感。而這樣 的特性往往是此類消費性產品在成品測試中之一 大挑戰。對于SD卡類產品而言,為了能夠降低 生產的成本,SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來進行生產。 其主要的原因,乃是因為采用KGD生產的SD卡類 產品,將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求,只需針對成品封裝過程中所可能產生的瑕疵 進行檢測,而不需要再對整個晶片進行完整的測 試。
Chroma 3280整合了測試機臺與自動分類機的功 能,并采用創新的設計,滿足采用KGD生產的SD 卡類產品的測試需求,不論是在機臺的成本或是 體積上,都比傳統的測試機臺來的大幅降低,因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。
Test-In-Tray : 乃是將待測物置于IC托盤中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法,可以大幅 節省傳統的測試方法因自動分類機在進行測試 時,必須以機器手臂夾取每個待測元件所需花取 的索引時間。因此,提供了一個蕞有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對于120個SD卡進行測 試時所需花費的索引時間大約只有10秒鐘。
高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個專屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive),此一測試機巢提供 了能夠同時測試120個micro SD卡的測試能力。
僅移除SD卡測試壞品 : 由于3280使用置于盤中 直接測試(Test-In-Tray)以及SD卡有著高良率的特 性,3280采取僅從整盤的SD卡中移除于測試過 程中所偵測到的瑕疵品到廢品盤內,同時再從預 先準備好的補充盤中夾取已測試過的良品來補足 目前測試盤中被移除的壞品,而將目前的測試盤 填滿成一完整的良品,并送至完測區。假設若以 98%的測試良率而言,每次僅需從測試盤中移除 2到3個壞品。因此,在進行好壞品分類中平均 所花的時間將小于測試所花的時間,不須要等候 分類工作完成后才能進行下一次的測試,也使得 整體的測試時間更有效率。
Firecracker II的電路設計與裝置于3280測試機巢 (Test Hive)中的測試模組其電路設計*一樣。 對于3280的使用者而言,Firecracker II是一個相 當方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線 的狀態下,用來產生或測試其測試程式。透過多 樣化轉接介面的設計,使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測物,而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽,配合Firecracker II所提供的軟體程式, 使用者將可進行直接的測試或是除錯等工作。
SD Protocol Aware Tests
DC Measurements
Sorting Status
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Model | Description | 詢價 |
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3280 | Test-In-Tray 測試分類機 |
致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機